白光干涉仪普遍应用在众多行业检测中,对于现代越来越复杂的工艺检测,也是心有余而力不足,德国NanoFocus AG研发的3D共聚焦显微镜的诞生,二者之间的区别优劣势有哪些呢?
白光干涉仪优点:
1.大范围测量(数平方毫米)
2.Z轴分辨率能达到0.1nm,水平分辨率0.3μm
3.快速测量,10s以内,但测量前需校正倾斜度
NanoFocus 3D共聚焦显微镜:
Z轴分辨率为1nm,没有白光干涉仪高,但是测量到亚微米及以上尺寸时精度和白光干涉基本相同。
白光干涉仪的问题点:
a)无法检测到陡峭角度——当使用干涉仪测量陡峭角度的对象时,由于干涉图案集中在这些区域,无法准确的收集信息。(通常倾角35°)
使用白光干涉仪进行观察电磁波干扰导致无法测量曲面
NanoFocus 3D共聚焦显微镜优势
检测到陡峭角度*大83°——共焦测距系统,它利用白光反射强度可以测量有大角度特性的形状,并且不会有噪点形状。
使用共聚焦显微镜进行观察光会穿过凹槽检测曲面
a)受表面反射率限制——如果表面反射度不好,测量是难以执行,因此,很多样品并不能测量。如果反射光在参考面和测量面有巨大差异,那么样品也是不能测量的。(反射率必须大于4%的样品才能测量)
NanoFocus 3D共聚焦显微镜优势:
a)全反射率测量——可吸收反射光范围广,几乎对样品没有特殊要求,一般显微镜可以看的,就可以看。(反射率0%-100%都能测量)
如果参考面的反射率为 100%,同时测量面的反射率也约等于 100%,则会显示清晰的干涉条纹。
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